Fundamentals of dimensional metrology /

This book is about: Measurement and metrology; Measurement, Gaging, and tolerances; Statistics and metrology; Language and systems of measurement; Vernier instruments; ...

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Busch, Ted.
Andere auteurs: Harlow, Roger., Thompson, Richard.
Formaat: Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Albany, NY : Delmar, 1998.
Editie:3rd ed.
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Mạng thư viện Đại học Đà Nẵng