Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | A A Rusakov |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Undetermined |
| Έκδοση: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
ανά: A A Rusakov
Έκδοση: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
ανά: Nghiêm Hùng
Έκδοση: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
ανά: Schnohr, Claudia S, κ.ά.
Έκδοση: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
ανά: Trần, Thị Kiều Linh
Έκδοση: (2014) -
Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
ανά: Nguyễn, Xuân Chánh
Έκδοση: (2008)