Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
Gardado en:
| Autor Principal: | A A Rusakov |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Undetermined |
| Publicado: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Títulos similares
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
por: A A Rusakov
Publicado: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
por: Nghiêm Hùng
Publicado: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
por: Schnohr, Claudia S, et al.
Publicado: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
por: Trần, Thị Kiều Linh
Publicado: (2014) -
Principles of structural metallurgy
por: Harocopos
Publicado: (1963)