Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
Đã lưu trong:
| 主要作者: | A A Rusakov |
|---|---|
| 格式: | 圖書 |
| 語言: | Undetermined |
| 出版: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| 主題: | |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
相似書籍
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
由: A A Rusakov
出版: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
由: Nghiêm Hùng
出版: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
由: Schnohr, Claudia S, et al.
出版: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
由: Trần, Thị Kiều Linh
出版: (2014) -
Principles of structural metallurgy
由: Harocopos
出版: (1963)