Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
Uloženo v:
| Hlavní autor: | A A Rusakov |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | Undetermined |
| Vydáno: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Podobné jednotky
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
Autor: A A Rusakov
Vydáno: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
Autor: Nghiêm Hùng
Vydáno: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Autor: Schnohr, Claudia S, a další
Vydáno: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
Autor: Trần, Thị Kiều Linh
Vydáno: (2014) -
Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
Autor: Nguyễn, Xuân Chánh
Vydáno: (2008)