Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | A A Rusakov |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | Undetermined |
Được phát hành: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
Bỡi: A A Rusakov
Được phát hành: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
Bỡi: Nghiêm Hùng
Được phát hành: (1979) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
Bỡi: Trần, Thị Kiều Linh
Được phát hành: (2014) -
Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
Bỡi: Nguyễn, Xuân Chánh
Được phát hành: (2008) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Bỡi: Schnohr, Claudia S, et al.
Được phát hành: (2016)