Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
Zapisane w:
| 1. autor: | A A Rusakov |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | Undetermined |
| Wydane: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Podobne zapisy
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
od: A A Rusakov
Wydane: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
od: Nghiêm Hùng
Wydane: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
od: Schnohr, Claudia S, i wsp.
Wydane: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
od: Trần, Thị Kiều Linh
Wydane: (2014) -
Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
od: Nguyễn, Xuân Chánh
Wydane: (2008)