Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T2
Tallennettuna:
| Päätekijä: | A A Rusakov |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | Undetermined |
| Julkaistu: |
Hà Nội
ĐH và THCN
1983
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Samankaltaisia teoksia
-
Phân tích cấu trúc kim loại bằng tia rontgen; T1
Tekijä: A A Rusakov
Julkaistu: (1983) -
Kim loại học và nhiệt luyện
Tekijä: Nghiêm Hùng
Julkaistu: (1979) -
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Tekijä: Schnohr, Claudia S, et al.
Julkaistu: (2016) -
Nghiên cứu các phương pháp phân tích huỳnh quang tia X để xác định hàm lượng canxi trong một số loại mẫu ximăng :
Tekijä: Trần, Thị Kiều Linh
Julkaistu: (2014) -
Tia X hơn 100 năm phát triển và 17 giải Nobel
Tekijä: Nguyễn, Xuân Chánh
Julkaistu: (2008)