Eighteenth annual IEEE Semiconductor thermal measurement and management symposium SEMI-THERM proceedings 2003 : San Jose, CA, USA, March 12-14,2002
Salvato in:
| Natura: | Libro |
|---|---|
| Lingua: | Undetermined |
| Pubblicazione: |
Piscataway, N.J.:
IEEE
2002
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Documenti analoghi
-
Twenty first Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium :
Pubblicazione: (2005) -
Thermal Sensors
di: Chandra Mohan Jha
Pubblicazione: (2015) -
Semiconductor measurements and instrumentation
di: Runyan, W. R.
Pubblicazione: (1975) -
Epioptics-7 : proceedings of the 24th course of the International School of Solid State Physics : Erice, Italy, 20-26 July 2002 /
Pubblicazione: (2004) -
International semiconductor cooperation symposium '88
Pubblicazione: (1988)