Trích dẫn APA

(2006). VLSI test principles and architectures: Design for testability. Amsterdam: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers.

Trích dẫn kiểu Chicago

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Amsterdam: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.

Trích dẫn MLA

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Amsterdam: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.