VLSI test principles and architectures : Design for testability

This book is a fundamental VLSI Testing and Design-for-Testability (DFT) textbook allowing undergraduates, DFT practitioners, and VLSI designers to learn quickly the basic VLSI Test concepts, principles, and architectures, for test and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. V...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	Undetermined
Được phát hành:	Amsterdam Elsevier Morgan Kaufmann Publishers 2006
Những chủ đề:	Integrated circuits,Integrated circuits,Mạch tích hợp,Mạch tích hợp Very large scale integration,Testing,Very large scale integration,Design,Mạch tích hợp quy mô lớn,Kiểm tra,Mạch tích hợp quy mô lớn,Thiết kế
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

VLSI test principles and architectures : Design for testability

Những quyển sách tương tự