Lý thuyết Weak Localization và ứng dụng trong nghiên cứu tính chất truyền dẫn của màng mỏng F:SnO2 : Luận văn Thạc sĩ Vật lý. Chuyên ngành Vật lý lý thuyết và Vật lý toán
Nghiên cứu lý thuyết định xứ yếu và vận dụng lý thuyết này trong nghiên cứu các tính chất truyền dẫn và của màng mỏng F:SnO2.
Сохранить в:
Главный автор: | Trương, Huỳnh Ngọc Hân |
---|---|
Формат: | |
Язык: | Undetermined |
Опубликовано: |
Cần Thơ
Trường Đại học Cần Thơ
2017
|
Предметы: | |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Схожие документы
-
Nghiên cứu hiện tượng từ trở của màng mỏng F:SnO2 và Bi2Se3 :
по: Nguyễn, Nhật Quyên
Опубликовано: (2017) -
Nghiên cứu hiện tượng siêu dẫn và từ trở của màng mỏng điện môi Tôpô In/Bi2Te3 :
по: Phan, Huỳnh Anh Thư
Опубликовано: (2017) -
Vật Lý và kỹ thuật màng mỏng
по: Nguyễn, Năng Định
Опубликовано: (2005) -
Công nghệ màng
по: Nguyễn, Hữu Hiếu
Опубликовано: (2018) -
Mô phỏng quá trình tạo màng SiC phẳng hai chiều có độ rộng NANO từ trạng thái lỏng :
по: Trương, Quốc Tuấn
Опубликовано: (2016)