Semiconductor measurements and instrumentation
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Runyan, W. R. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | Undetermined |
Được phát hành: |
London
McGraw-Hill
1975
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Eighteenth annual IEEE Semiconductor thermal measurement and management symposium
Được phát hành: (2002) -
Twenty first Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium :
Được phát hành: (2005) -
Semiconductors
Bỡi: Hannay, N. B.
Được phát hành: (1959) -
Fundamentals of semiconductors : physics and materials properties /
Bỡi: Yu, Peter Y., 1944-
Được phát hành: (2001) -
Impurities in semiconductors :
Bỡi: Fistul, Victor I.
Được phát hành: (2004)