Semiconductor measurements and instrumentation
Guardado en:
| Autor principal: | Runyan, W. R. |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Undetermined |
| Publicado: |
London
McGraw-Hill
1975
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Ejemplares similares
-
Eighteenth annual IEEE Semiconductor thermal measurement and management symposium
Publicado: (2002) -
Twenty first Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium :
Publicado: (2005) -
Semiconductors
por: Hannay, N. B.
Publicado: (1959) -
Fundamentals of semiconductors : physics and materials properties /
por: Yu, Peter Y., 1944-
Publicado: (2001) -
Impurities in semiconductors :
por: Fistul, Victor I.
Publicado: (2004)