Jakubowski, A., Marciniak, W., & Przewlocki, H. M. (1991). Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production. Singapore ; Teaneck, NJ: World Scientific.
Chicago-стиль цитированияJakubowski, Andrzej., Wieslaw Marciniak, và Henryk M. Przewlocki. Diagnostic Measurements in LSI/VLSI Integrated Circuits Production. Singapore ; Teaneck, NJ: World Scientific, 1991.
MLA-цитированиеJakubowski, Andrzej., Wieslaw Marciniak, và Henryk M. Przewlocki. Diagnostic Measurements in LSI/VLSI Integrated Circuits Production. Singapore ; Teaneck, NJ: World Scientific, 1991.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.