Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Jakubowski, Andrzej.
অন্যান্য লেখক:	Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
বিন্যাস:	Sách giấy
প্রকাশিত:	Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
মালা:	Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
বিষয়গুলি:	Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
ট্যাগগুলো:	ট্যাগ যুক্ত করুন কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

অনুরূপ উপাদানগুলি