Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Jakubowski, Andrzej.
Otros Autores: Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
Formato: Sách giấy
Publicado: Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
Colección:Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
Materias:
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt