Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

Đã lưu trong:
書目詳細資料
主要作者: Jakubowski, Andrzej.
其他作者: Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
格式: Sách giấy
出版: Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
叢編:Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
主題:
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt