The effect of the distributed test architecture on the power of testing /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Hierons, R. M. |
---|---|
Tác giả khác: | Ural, H. |
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Fault coverage-driven incremental test generation /
Bỡi: Simao, Adenilso. -
Test selection for hierarchical and communicating finite state machines /
Bỡi: Ipate, Florentin. -
Bayesian reliability analysis using the Dirichlet prior distribution with emphasis on accelerated life testing run in random order /
Bỡi: Somerville, Ian F. -
Distribution-free tests of fractional cointegration /
Bỡi: Hualde, Javier. -
Stress testing
Bỡi: Ellestad, Myrvin H.
Được phát hành: (2003)