The effect of the distributed test architecture on the power of testing /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | Hierons, R. M. |
|---|---|
| Tác giả khác: | Ural, H. |
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Những quyển sách tương tự
-
Fault coverage-driven incremental test generation /
Bỡi: Simao, Adenilso. -
Test selection for hierarchical and communicating finite state machines /
Bỡi: Ipate, Florentin. -
NTDREG: An Effective Regression Unit Testing Method for Java Projects
Bỡi: Tran, Hoang Viet, et al.
Được phát hành: (2026) -
Bayesian reliability analysis using the Dirichlet prior distribution with emphasis on accelerated life testing run in random order /
Bỡi: Somerville, Ian F. -
Distribution-free tests of fractional cointegration /
Bỡi: Hualde, Javier.