Long memory testing in the time domain /
Gardado en:
| Autor Principal: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Outros autores: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Títulos similares
-
Testing for long memory /
por: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
por: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
por: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
por: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
por: Ashok, K. Sharma
Publicado: (2026)