Long memory testing in the time domain /
में बचाया:
| मुख्य लेखक: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| अन्य लेखक: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| स्वरूप: | लेख |
| भाषा: | English |
| विषय: | |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
समान संसाधन
-
Testing for long memory /
द्वारा: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
द्वारा: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
द्वारा: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
द्वारा: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
द्वारा: Ashok, K. Sharma
प्रकाशित: (2026)