Long memory testing in the time domain /
Sparad:
| Huvudupphovsman: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Övriga upphovsmän: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Materialtyp: | Artikel |
| Språk: | English |
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Liknande verk
-
Testing for long memory /
av: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
av: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
av: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
av: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
av: Ashok, K. Sharma
Publicerad: (2026)