Long memory testing in the time domain /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Μορφή: | Άρθρο |
| Γλώσσα: | English |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Testing for long memory /
ανά: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
ανά: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
ανά: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
ανά: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
ανά: Ashok, K. Sharma
Έκδοση: (2026)