Long memory testing in the time domain /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Tác giả khác: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | English |
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
Testing for long memory /
Bỡi: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
Bỡi: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
Bỡi: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
Bỡi: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Bỡi: Ashok, K. Sharma
Được phát hành: (2026)