Long memory testing in the time domain /
Đã lưu trong:
| Hovedforfatter: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Andre forfattere: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Format: | Bài viết |
| Sprog: | English |
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Lignende værker
-
Testing for long memory /
af: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
af: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
af: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
af: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
af: Ashok, K. Sharma
Udgivet: (2026)