Long memory testing in the time domain /
Сохранить в:
| Главный автор: | Demetrescu, Matei. |
|---|---|
| Другие авторы: | Hassler, Uwe., Kuzin, Vladimir. |
| Формат: | Статья |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Схожие документы
-
Testing for long memory /
по: Harris, David. -
Alternative frequency and time domain versions of fractional Brownian motion /
по: Davidson, James. -
Error control for a time-discretization of the full one-dimensional Fremond model for shape memory alloys /
по: Stefanelli, Ulisse. -
The work of memory : Time, identity, and justice /
по: Booth, W. James. -
Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
по: Ashok, K. Sharma
Опубликовано: (2026)