Παραπομπή APA

Kim, Y., Lee, J., & Yu, I. Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology.

Παραπομπή Chicago Style

Kim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, και In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.

Παραπομπή MLA

Kim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, και In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.