Kim, Y., Lee, J., & Yu, I. Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology.
Chicago-tyylinen lähdeviittausKim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, ja In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.
MLA-viiteKim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, ja In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.