Kim, Y., Lee, J., & Yu, I. Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology.
Trích dẫn kiểu ChicagoKim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, và In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.
Trích dẫn MLAKim, Young-Min., Jong-Hyun Lee, và In-Sik Yu. Fabrication and Characterization of Silicon Probe Tip for Vertical Probe Card Using MEMS Technology.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.