Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Kim, Young-Min.
Kolejni autorzy: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt