Fabrication and characterization of silicon probe tip for vertical probe card using MEMS technology /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Kim, Young-Min.
مؤلفون آخرون: Lee, Jong-Hyun., Yu, In-Sik.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt