Παραπομπή APA

Moon, H., Kim, J., & Kim, Y. Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever.

Παραπομπή Chicago Style

Moon, Hyoung-Sik., Joo-Hwan Kim, και Young-Min Kim. Measurement of Yield Strength for Electroplated Nickel Film Using Micro-cantilever.

Παραπομπή MLA

Moon, Hyoung-Sik., Joo-Hwan Kim, και Young-Min Kim. Measurement of Yield Strength for Electroplated Nickel Film Using Micro-cantilever.

Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.