APA Цитирование

Moon, H., Kim, J., & Kim, Y. Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever.

Chicago-стиль цитирования

Moon, Hyoung-Sik., Joo-Hwan Kim, và Young-Min Kim. Measurement of Yield Strength for Electroplated Nickel Film Using Micro-cantilever.

MLA-цитирование

Moon, Hyoung-Sik., Joo-Hwan Kim, và Young-Min Kim. Measurement of Yield Strength for Electroplated Nickel Film Using Micro-cantilever.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.