Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Moon, Hyoung-Sik.
Otros Autores: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt