Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Moon, Hyoung-Sik.
Другие авторы: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt