Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Moon, Hyoung-Sik.
Muut tekijät: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Aineistotyyppi: Artikkeli
Kieli:English
Aiheet:
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt