Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Moon, Hyoung-Sik.
Outros Autores: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Formato: Atigo
Idioma:English
Assuntos:
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt