Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Moon, Hyoung-Sik.
Altres autors: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Format: Article
Idioma:English
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt