Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Moon, Hyoung-Sik.
מחברים אחרים: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
פורמט: Bài viết
שפה:English
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt