Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Moon, Hyoung-Sik.
Diğer Yazarlar: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Materyal Türü: Makale
Dil:English
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt