Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

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書誌詳細
第一著者: Moon, Hyoung-Sik.
その他の著者: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
フォーマット: 論文
言語:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt