Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

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Autore principale: Moon, Hyoung-Sik.
Altri autori: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Natura: Articolo
Lingua:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt