Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Moon, Hyoung-Sik.
Andere auteurs: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Formaat: Artikel
Taal:English
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt