Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Moon, Hyoung-Sik.
Daljnji autori: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Format: Članak
Jezik:English
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt