Bae, I., Choi, S., Kim, K., Park, H., & Yu, J. Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure.
Citación estilo ChicagoBae, In-Ho., Sang-Su Choi, Ki-Hong Kim, Hun-Bo Park, và Jae-In Yu. Photoreflectance Measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs Heterostructure.
Cita MLABae, In-Ho., et al. Photoreflectance Measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs Heterostructure.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.