APA Alıntı

Bae, I., Choi, S., Kim, K., Park, H., & Yu, J. Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure.

Chicago Stili Alıntı

Bae, In-Ho., Sang-Su Choi, Ki-Hong Kim, Hun-Bo Park, ve Jae-In Yu. Photoreflectance Measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs Heterostructure.

MLA Alıntı

Bae, In-Ho., et al. Photoreflectance Measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs Heterostructure.

Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..