Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill: Bae, In-Ho., Choi, Sang-Su., Kim, Ki-Hong., Park, Hun-Bo., Yu, Jae-In.
Fformat: Erthygl
Iaith:English
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt