Application of high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy-energy dispersive X-ray spectrometry, energy-filtered transmission electron microscopy to the characterization of nanoparticles in the environment /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Utsunomiya, Satoshi.
Kolejni autorzy: Ewing, Rodney C.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt