May, C. J., Canavan, H. E., & Castner, D. G. Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA.
Trích dẫn kiểu ChicagoMay, Collin J., Heather E. Canavan, và David G. Castner. Quantitative X-ray Photoelectron Spectroscopy and Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry Characterization of the Components in DNA.
Trích dẫn MLAMay, Collin J., Heather E. Canavan, và David G. Castner. Quantitative X-ray Photoelectron Spectroscopy and Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry Characterization of the Components in DNA.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.