Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA /
Sparad:
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Övriga upphovsmän: | , |
| Materialtyp: | Artikel |
| Språk: | English |
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|