Impact energy dependence of SF5+-induced damage in poly(methyl methacrylate) studied using time-of-flight secondary ion mass spectrometry /

Impact energy dependence of SF5+-induced damage in poly(methyl methacrylate) studied using time-of-flight secondary ion mass spectrometry /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Wagner, M. S.
Formato: Atigo
Idioma:English
Assuntos:
Depth profile
Energy dependence
Ion irradiation
Mass spectrometry
Methyl methacrylate polymer
Monte Carlo method
Polymer films
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
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