Test selection for hierarchical and communicating finite state machines /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Ipate, Florentin. |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | English |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Fault coverage-driven incremental test generation /
Bỡi: Simao, Adenilso. -
The effect of the distributed test architecture on the power of testing /
Bỡi: Hierons, R. M. -
Item selection in computerized classification testing /
Bỡi: Thompson, Nathan A. -
Educational testing and measurement:
Bỡi: Kubiszyn, Tom
Được phát hành: (2004) -
Stress testing
Bỡi: Ellestad, Myrvin H.
Được phát hành: (2003)