The method of determining stress levels regarding the electrical alt through optical temperature sensor /

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính:	Ryu, Haeng-Soo.
Tác giả khác:	Han, Gyu-Hwan., Yoon, Nam-Sik.
Định dạng:	Bài viết
Ngôn ngữ:	English
Những chủ đề:	Accelerated life test Magnetic contactor MINITAB Optical temperature sensor
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt


LEADER	00962nam a2200301 4500
001	DLU090098789
005	##20091201
040	#	#	\|a DLU \|b eng
041	#	#	\|a eng
044	#	#	\|a us
100	#	#	\|a Ryu, Haeng-Soo.
245	#	#	\|a The method of determining stress levels regarding the electrical alt through optical temperature sensor / \|c Haeng-Soo Ryu, Gyu-Hwan Han, Nam-Sik Yoon.
653	#	#	\|a Accelerated life test
653	#	#	\|a Magnetic contactor
653	#	#	\|a MINITAB
653	#	#	\|a Optical temperature sensor
700	#	#	\|a Han, Gyu-Hwan.
700	#	#	\|a Yoon, Nam-Sik.
773	#	#	\|t Journal of Electrical Engineering & Technology \|g Vol. 3, no. 2 (June 2008), p. 184-191
920	#	#	\|a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
994	#	#	\|a DLU
900	#	#	\|a True
911	#	#	\|a Trương Bảo Trâm Anh
925	#	#	\|a G
926	#	#	\|a A
927	#	#	\|a BB
980	#	#	\|a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự