Sự thay đổi tính từ cứng của màng mỏng điện phân xung dòng FePt theo nhiệt độ ủ /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Đặng Minh Hồng.
Tác giả khác: Nguyễn Châu., Vương Văn Hiệp
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:Vietnamese
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 00893nam a2200253 4500
001 DLU120142992
005 ##20121025
040 # # |a DLU  |b vie 
041 # # |a vie 
044 # # |a vn 
100 # # |a Đặng Minh Hồng. 
245 # # |a Sự thay đổi tính từ cứng của màng mỏng điện phân xung dòng FePt theo nhiệt độ ủ /  |c Đặng Minh Hồng, Nguyễn Châu, Vương Văn Hiệp. 
700 # # |a Nguyễn Châu. 
700 # # |a Vương Văn Hiệp 
773 # # |t Tuyển tập báo cáo hội nghị Vật lý toàn quốc lần thứ VI: Vật lý chất rắn Tập 3,   |g  2006, tr. 1131-1134 
920 # # |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Nguyễn Thị Mai Anh 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a BB 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt