L. Truong., & A.Stesmans. Mật độ trạng thái bề mặt (Dit) tại phân biên Si/HfO2 trước và sau khi thụ động hóa trong môi trường khí Hydro.
Chicago-stil citatL. Truong., och A.Stesmans. Mật độ Trạng Thái Bề Mặt (Dit) Tại Phân Biên Si/HfO2 Trước Và Sau Khi Thụ động Hóa Trong Môi Trường Khí Hydro.
MLA-referensL. Truong., och A.Stesmans. Mật độ Trạng Thái Bề Mặt (Dit) Tại Phân Biên Si/HfO2 Trước Và Sau Khi Thụ động Hóa Trong Môi Trường Khí Hydro.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.