Mật độ trạng thái bề mặt (Dit) tại phân biên Si/HfO2 trước và sau khi thụ động hóa trong môi trường khí Hydro /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: L. Truong.
Tác giả khác: A.Stesmans.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:Vietnamese
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt