Nghiên cứu khảo sát khả năng phân giải mật độ của thiết bị chụp cắt lớp điện toán (CT) thế hệ thứ 3 : Tóm tắt Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Nguyễn Văn Diệm. |
---|---|
Tác giả khác: | Phù Chí Hoà, PGS.TS. (hướng dẫn.), Phạm Ngọc Sơn, ThS. (hướng dẫn.) |
Định dạng: | Luận văn |
Ngôn ngữ: | Vietnamese |
Được phát hành: |
Đà Lạt :
Trường Đại học Đà Lạt,
2016.
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Nghiên cứu khảo sát khả năng phân giải mật độ của thiết bị chụp cắt lớp điện toán (CT) thế hệ thứ 3 : Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Bỡi: Nguyễn Văn Diệm.
Được phát hành: (2016) -
Nghiên cứu ứng dụng kỹ thuật chụp cắt lớp điện toán thế hệ thứ 3 trong khảo sát các đối tượng công nghiệp : Tóm tắt Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Bỡi: Phạm Văn Đạo.
Được phát hành: (2016) -
Nghiên cứu ứng dụng kỹ thuật chụp cắt lớp điện toán thế hệ thứ 3 trong khảo sát các đối tượng công nghiệp : Luận văn Thạc sĩ Vật lý kỹ thuật /
Bỡi: Phạm Văn Đạo.
Được phát hành: (2016) -
Bước đầu chụp cắt lớp vi tính trong quặn thận : Những dấu hiệu gián tiếp của tắc cấp niệu quản /
Bỡi: Lê Trọng Khoan. -
PHƯƠNG PHÁP CHỈNH HÓA THƯA CHO BÀI TOÁN XÁC ĐỊNH HỆ SỐ DẪN ĐIỆN TRONG CHỤP CẮT LỚP ĐIỆN TRỞ KHÁNG
Bỡi: Mai, Nguyễn Minh Hoàng
Được phát hành: (2022)