Citação norma APA

Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific.

Citação norma Chicago

Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific, 2010.

Citação norma MLA

Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific, 2010.

Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.