Electromigration in ULSI Interconnections /
保存先:
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | Sách giấy |
| 出版事項: |
Singapore ; Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2010.
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| シリーズ: | International series on advances in solid state electronics and technology.
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| 主題: | |
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| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
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