Electromigration in ULSI Interconnections /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Tan, Cher Ming, 1959-
Formato: Sách giấy
Publicado em: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2010.
coleção:International series on advances in solid state electronics and technology.
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt