Oldham, T. R., & Timothy R. Oldham. (1999). Ionizing radiation effects in MOS oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific.
Chicago Style citaatOldham, Timothy R., en Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
MLA citatieOldham, Timothy R., en Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.