Oldham, T. R., & Timothy R. Oldham. (1999). Ionizing radiation effects in MOS oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific.
Παραπομπή Chicago StyleOldham, Timothy R., και Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
Παραπομπή MLAOldham, Timothy R., και Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.