Oldham, T. R., & Timothy R. Oldham. (1999). Ionizing radiation effects in MOS oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific.
Chicago-стиль цитированияOldham, Timothy R., và Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
MLA-цитированиеOldham, Timothy R., và Timothy R. Oldham. Ionizing Radiation Effects in MOS Oxides. Singapore,River Edge, NJ: World Scientific, 1999.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.