A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
में बचाया:
| भाषा: | vie |
|---|---|
| ऑनलाइन पहुंच: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|
टिप्पणी देने वाले पहले व्यक्ति बनें!