A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Idioma:vie
Accés en línia:https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng

Ítems similars