A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Αποθηκεύτηκε σε:
| Γλώσσα: | vie |
|---|---|
| Διαθέσιμο Online: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|