A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Saved in:
| Language: | vie |
|---|---|
| Online Access: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Institutions: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|