A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Bewaard in:
| Taal: | vie |
|---|---|
| Online toegang: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|