A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Zapisane w:
| Język: | vie |
|---|---|
| Dostęp online: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|