A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Shranjeno v:
| Jezik: | vie |
|---|---|
| Online dostop: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|