A study of the curvature of a thick ALN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 template using X-ray diffraction
Kaydedildi:
| Dil: | vie |
|---|---|
| Online Erişim: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=9349 |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|