Development and regression of the normal state zone in YBCO thin films bridges.
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Vũ Đình, Lâm, Lê Văn, Hồng, Phan Hồng, Khôi |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | Vietnamese |
Được phát hành: |
2018
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://thuvien.ued.udn.vn/handle/TVDHSPDN_123456789/45258 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu và E-Learning, Trường Đại học Sư phạm – Đại học Đà Nẵng |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Surface-Frustrated Effects on Ground State of FCC Heisenberg Thin Films
Bỡi: Hoàng Đình, Tiên,...
Được phát hành: (2015) -
Surface-Frustrated Effects on Ground State of FCC Heisenberg Thin Films
Bỡi: Hoàng Đình, Tiên,...
Được phát hành: (2018) -
Multilayer organic light emitting diode: thin films preparation and device characterization
Bỡi: Nguyễn Năng, Dinh,...
Được phát hành: (2018) -
Thin film materials :
Bỡi: Freund, L. B
Được phát hành: (2003) -
Thin-film microextraction /
Bỡi: Bruheim, Inge.