High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip. 1st ed. 2018

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Những tác giả chính:	Wang, Zheng, Chattopadhyay, Anupam
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Springer Singapore 2020
נושאים:	Engineering Circuits and Systems Performance and Reliability Electronic Circuits and Devices
גישה מקוונת:	http://doi.org/10.1007/978-981-10-1073-6 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102328
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!

פריטים דומים