Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
বিন্যাস: | গ্রন্থ |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
Springer Singapore
2020
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph I., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
অনুযায়ী: Hawkes, Peter W., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
অনুযায়ী: Kirkland, Earl J.
প্রকাশিত: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
অনুযায়ী: Williams, David B., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
অনুযায়ী: Morita, Seizo, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)