Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Springer New York 2020
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/94200
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt