Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Uloženo v:
Hlavní autoři: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Springer Singapore
2020
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobné jednotky
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Autor: Goldstein, Joseph I., a další
Vydáno: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
Autor: Hawkes, Peter W., a další
Vydáno: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
Autor: Kirkland, Earl J.
Vydáno: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
Autor: Williams, David B., a další
Vydáno: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
Autor: Morita, Seizo, a další
Vydáno: (2020)