Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Tallennettuna:
Päätekijät: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Springer Singapore
2020
|
Aiheet: | |
Linkit: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Samankaltaisia teoksia
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Tekijä: Goldstein, Joseph I., et al.
Julkaistu: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
Tekijä: Hawkes, Peter W., et al.
Julkaistu: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
Tekijä: Kirkland, Earl J.
Julkaistu: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
Tekijä: Williams, David B., et al.
Julkaistu: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
Tekijä: Morita, Seizo, et al.
Julkaistu: (2020)