Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Enregistré dans:
Auteurs principaux: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
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Format: | Livre |
Langue: | English |
Publié: |
Springer Singapore
2020
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Sujets: | |
Accès en ligne: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
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Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
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