Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

Mã QR

Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Những tác giả chính:	Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Springer Singapore 2020
נושאים:	Materials Science Characterization and Evaluation of Materials Spectroscopy and Microscopy Nanotechnology and Microengineering
גישה מקוונת:	http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
מאת: Goldstein, Joseph I., et al.
יצא לאור: (2020)

Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
מאת: Hawkes, Peter W., et al.
יצא לאור: (2020)

Advanced Computing in Electron Microscopy
מאת: Kirkland, Earl J.
יצא לאור: (2020)

Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
מאת: Williams, David B., et al.
יצא לאור: (2020)

Noncontact Atomic Force Microscopy
מאת: Morita, Seizo, et al.
יצא לאור: (2020)

XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces. 1st ed. 2017
מאת: Iwasawa, Yasuhiro, et al.
יצא לאור: (2020)

Micro and Nanomechanics, Volume 5. 1st ed. 2018
מאת: Starman, LaVern, et al.
יצא לאור: (2020)

Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3. 1st ed. 2018
מאת: Lamberti, Luciano, et al.
יצא לאור: (2020)

Advances in Nanomaterials. 1st ed. 2018
מאת: Balasubramanian, Ganesh
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods XII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods XI
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods XIII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods X
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods V
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods VIII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods IX
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
מאת: Veselý, Jozef
יצא לאור: (2020)

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
מאת: Murakami, Youichi, et al.
יצא לאור: (2020)

Magnetic Resonance of Semiconductors and Their Nanostructures. 1st ed. 2017
מאת: Baranov, Pavel G., et al.
יצא לאור: (2020)

Controlled Synthesis and Scanning Tunneling Microscopy Study of Graphene and Graphene-Based Heterostructures. 1st ed. 2018
מאת: Liu, Mengxi
יצא לאור: (2020)

Acoustic Emission
מאת: Nazarchuk, Zinoviy, et al.
יצא לאור: (2020)

Metal Nanoparticles and Clusters. 1st ed. 2018
מאת: Deepak, Francis Leonard
יצא לאור: (2020)

Modeling and Design of Flexible Pavements and Materials. 1st ed. 2018
מאת: Little, Dallas N., et al.
יצא לאור: (2020)

Rail Crack Monitoring Using Acoustic Emission Technique
מאת: Li, Dan
יצא לאור: (2020)

Nanomaterials
מאת: Ramesh, K.T.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods VII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods VI
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Fracture Mechanics. 3rd ed. 2018
מאת: Gross, Dietmar, et al.
יצא לאור: (2020)

Best Practices for the Use of Simulation in POD Curves Estimation. 1st ed. 2018
מאת: Chapuis, Bastien, et al.
יצא לאור: (2020)

Singular Solutions in Plasticity. 1st ed. 2018
מאת: Alexandrov, Sergei
יצא לאור: (2020)

Improved Performance of Materials. 1st ed. 2018
מאת: Öchsner, Andreas, et al.
יצא לאור: (2020)

Proceedings of the 17th International Conference on New Trends in Fatigue and Fracture. 1st ed. 2018
מאת: Ambriz, Ricardo R., et al.
יצא לאור: (2020)

Nanomaterials and Their Applications. 1st ed. 2018
מאת: Khan, Zishan Husain
יצא לאור: (2020)

Scanning electrochemical microscopy /
יצא לאור: (2012)

Strain-Hardening Cement-Based Composites. 1st ed. 2018
מאת: Mechtcherine, Viktor, et al.
יצא לאור: (2020)

Mechanics of Additive and Advanced Manufacturing, Volume 9. 1st ed. 2018
מאת: Wang, Junlan, et al.
יצא לאור: (2020)

Analysis and Modelling of Advanced Structures and Smart Systems. 1st ed. 2018
מאת: Altenbach, Holm, et al.
יצא לאור: (2020)

Challenges in Mechanics of Time Dependent Materials, Volume 2. 1st ed. 2018
מאת: Arzoumanidis, Alex, et al.
יצא לאור: (2020)

Introduction to Microsystem Design
מאת: Schomburg, Werner Karl
יצא לאור: (2015)

Advanced Methods and Technologies in Metallurgy in Russia. 1st ed. 2018
מאת: Syngellakis, Stavros, et al.
יצא לאור: (2020)