Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Na minha lista:
Principais autores: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
Formato: | Livro |
Idioma: | English |
Publicado em: |
Springer Singapore
2020
|
Assuntos: | |
Acesso em linha: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Registros relacionados
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
por: Goldstein, Joseph I., et al.
Publicado em: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
por: Hawkes, Peter W., et al.
Publicado em: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
por: Kirkland, Earl J.
Publicado em: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
por: Williams, David B., et al.
Publicado em: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
por: Morita, Seizo, et al.
Publicado em: (2020)