Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
Sparad:
Huvudupphovsmän: | Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald |
---|---|
Materialtyp: | Bok |
Språk: | English |
Publicerad: |
Springer Singapore
2020
|
Ämnen: | |
Länkar: | http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700 |
Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Liknande verk
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
av: Goldstein, Joseph I., et al.
Publicerad: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
av: Hawkes, Peter W., et al.
Publicerad: (2020) -
Advanced Computing in Electron Microscopy
av: Kirkland, Earl J.
Publicerad: (2020) -
Transmission Electron Microscopy. 2nd ed.
av: Williams, David B., et al.
Publicerad: (2020) -
Noncontact Atomic Force Microscopy
av: Morita, Seizo, et al.
Publicerad: (2020)