Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Brodusch, Nicolas, Demers, Hendrix, Gauvin, Raynald
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Springer Singapore 2020
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5
https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/102700
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt